【48812】利扬芯片取得发明专利授权:“存储器修正测验办法及体系”

来源:大电流电池测试    发布时间:2024-05-21 18:19:13

  证券之星音讯,依据企查查多个方面数据显现利扬芯片(688135)新取得一项发明专利授权,专利名为“存储器修正测验办法及体系”,专利申请号为CN2.0,授权日为2024年5月14日。

  专利摘要:本发明揭露了一种存储器修正测验办法及体系,其间该办法有如下过程:生成一信息计算记载表;经过测验向量对待测存储器进行数据剖析和地址解析,以得到存储器中失效存储单元的地址信息和数据信息;将失效存储单元的地址信息和对应的数据信息录入信息计算记载表中;当一切测验向量履行结束后,依据信息计算记载表中记载的信息对存储器中失效存储单元做修正处理;选用上述存储器修正测验办法,在选用多段测验向量对存储器来测验过程中,中心无须中止,待一切测验向量履行结束后,一致有有序地对一切的失效存储单元做修正处理,具有测验和修正处理效率高的长处,有用节省测验时刻。

  今年以来利扬芯片新取得专利授权8个,较去年同期增加了300%。结合公司2023年年报财务数据,2023年公司在研制方面投入了7516.24万元,同比增11.26%。

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